激光粒度儀和顆粒圖像儀有什么區(qū)別？
 

　　粒度儀可分為納米粒度儀，激光粒度儀，單顆粒光阻法粒度儀和圖像粒度儀等。
 

　　粒度儀是用物理的方法測試固體顆粒的大小和分布的一種儀器。根據(jù)測試原理的不同分為沉降式粒度儀、沉降天平、激光粒度儀、光學顆粒計數(shù)器、電阻式顆粒計數(shù)器、顆粒圖像分析儀等。
 

　　粒度儀分類介紹：
 

　　激光粒度儀
 

　　采用MIE散射原理的激光粒度儀，假設被測顆粒為標準球形，無法測量顆粒形貌，多為離線粒度儀。
 

　　采用MIE散射原理的激光粒度儀由自主研發(fā)的會聚光傅立葉變換光路和無約束自由擬合是數(shù)據(jù)處理軟件組成，可檢測顆粒大小及分布，覆蓋了毫米、微米、亞微米及納米多個波段。
 

　　其測試顆粒大小及分布時采用的分散系統(tǒng)根據(jù)不同的測試要求分為濕法分散系統(tǒng)、干法分散系統(tǒng)和干濕一體分散系統(tǒng)。
 

　　當光線照射到顆粒上時會發(fā)生散射、衍射，其衍射、散射光強度均與粒子的大小有關。觀測其光強度，可應用Fraunhofer衍射理論和Mie散射理論求得粒子徑分布(激光衍射/散射法)，使用Mie散射理論進行計算。光入射到球形粒子時可產(chǎn)生三類光：一類，在粒子表面、通過粒子內(nèi)部、經(jīng)粒子內(nèi)表面的反射光；第二類，通過粒子內(nèi)部而折射出的光；第三類，在表面的衍射光。這些現(xiàn)象與粒子的大小無關，全都可以作為光散射處理。
 

　　一般地，光散射現(xiàn)象可以用經(jīng)Maxwell電磁方程式嚴密解出的Mie散射理論說明。但是，實際使用起來過于復雜，為了求得實際的光強度，可根據(jù)入射波長λ和粒子半徑r的關系，即：rλ時，F(xiàn)raunhofer衍射理論。在使用上述理論時，應考慮到光的波長和粒徑的關系，在不同的領域使用不同的理論。
 

　　粒徑大于波長的時候，由Fraunhofer衍射理論求得的衍射光強度和Mie散射理論求得的散射光強度大體是一致的。因此，可以把Fraunhofer衍射理論作為Mie散射理論的近似處理。這時，光散射(衍射)的方向幾乎都集中在前方，其強度與粒子徑的大小有關，有很大的變化。即表示粒子徑固有的光強度譜，解出粒子的光強度分布(散射譜)就可以定出粒子徑。當波長和粒子徑很接近的時候，不能用Fraunhofer的近似式來表示散射強度。這時有必要根據(jù)Mie散射理論作進一步討論。在Mie散射中的散射光強度由入射光波長、粒子徑、粒子和介質(zhì)的相對折射率來確定。
 

　　顆粒圖像儀：
 

　　對顆粒拍照后將圖片分析處理，可以測量顆粒形貌，通過此方法可實現(xiàn)原位實時在線測量。
 

　　顆粒圖像儀擁有靜態(tài)、動態(tài)兩種測試方法。
 

　　靜態(tài)方式使用改裝的顯微鏡系統(tǒng)，配合高清晰攝像機，將顆粒樣品的圖像直觀的反映到電腦屏幕上，配合相關的計算機軟件可進行顆粒大小、形狀、整體分布等屬性的計算，并可以將測試結(jié)果輸出為報告。
 

　　動態(tài)方式具有形貌和粒徑分布雙重分析能力。重建了全新循環(huán)分散系統(tǒng)和軟件數(shù)據(jù)處理模塊，解決了靜態(tài)顆粒圖像儀的制樣繁瑣、采樣代表性差、顆粒粘連等缺陷。